Đang tải...
The atomic force microscope as a mechano–electrochemical pen
We demonstrate a method that allows the controlled writing of metallic patterns on the nanometer scale using the tip of an atomic force microscope (AFM) as a “mechano–electrochemical pen”. In contrast to previous experiments, no voltage is applied between the AFM tip and the sample surface. Instead,...
Đã lưu trong:
| Những tác giả chính: | , , |
|---|---|
| Định dạng: | Artigo |
| Ngôn ngữ: | Inglês |
| Được phát hành: |
Beilstein-Institut
2011
|
| Những chủ đề: | |
| Truy cập trực tuyến: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC3201618/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/22043454 https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.3762/bjnano.2.70 |
| Các nhãn: |
Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
|