Φορτώνει......

Reversible mechano-electrochemical writing of metallic nanostructures with the tip of an atomic force microscope

We recently introduced a method that allows the controlled deposition of nanoscale metallic patterns at defined locations using the tip of an atomic force microscope (AFM) as a “mechano-electrochemical pen”, locally activating a passivated substrate surface for site-selective electrochemical deposit...

Πλήρης περιγραφή

Αποθηκεύτηκε σε:
Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριοι συγγραφείς: Obermair, Christian, Kress, Marina, Wagner, Andreas, Schimmel, Thomas
Μορφή: Artigo
Γλώσσα:Inglês
Έκδοση: Beilstein-Institut 2012
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC3557521/
https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/23365795
https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.3762/bjnano.3.92
Ετικέτες: Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!