লোডিং...
Surface Analysis of Photolithographic Patterns using ToF-SIMS and PCA
Time-of-flight secondary ion mass spectrometry (ToF-SIMS) is a surface analysis technique well-suited to detect and identify trace surface species. With the latest analyzers, ion sources and data analysis methods, imaging ToF-SIMS provides detailed 2-D and 3-D surface reactivity maps. Coupling multi...
সংরক্ষণ করুন:
| প্রধান লেখক: | , , , , , , |
|---|---|
| বিন্যাস: | Artigo |
| ভাষা: | Inglês |
| প্রকাশিত: |
2009
|
| বিষয়গুলি: | |
| অনলাইন ব্যবহার করুন: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC2743017/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/19756241 https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1002/sia.3056 |
| ট্যাগগুলো: |
ট্যাগ যুক্ত করুন
কোনো ট্যাগ নেই, প্রথমজন হিসাবে ট্যাগ করুন!
|