লোডিং...

Athermalization in atomic force microscope based force spectroscopy using matched microstructure coupling

The authors describe a method for athermalization in atomic force microscope (AFM) based force spectroscopy applications using microstructures that thermomechanically match the AFM probes. The method uses a setup where the AFM probe is coupled with the matched structure and the displacements of both...

সম্পূর্ণ বিবরণ

সংরক্ষণ করুন:
গ্রন্থ-পঞ্জীর বিবরন
প্রধান লেখক: Torun, H., Finkler, O., Degertekin, F. L.
বিন্যাস: Artigo
ভাষা:Inglês
প্রকাশিত: American Institute of Physics 2009
বিষয়গুলি:
অনলাইন ব্যবহার করুন:https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC2721764/
https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/19655988
https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1063/1.3167276
ট্যাগগুলো: ট্যাগ যুক্ত করুন
কোনো ট্যাগ নেই, প্রথমজন হিসাবে ট্যাগ করুন!