Φορτώνει......
Extracting viscoelastic material parameters using an atomic force microscope and static force spectroscopy
Atomic force microscopy (AFM) techniques have provided and continue to provide increasingly important insights into surface morphology, mechanics, and other critical material characteristics at the nanoscale. One attractive implementation involves extracting meaningful material properties, which dem...
Αποθηκεύτηκε σε:
| Κύριοι συγγραφείς: | , , |
|---|---|
| Μορφή: | Artigo |
| Γλώσσα: | Inglês |
| Έκδοση: |
Beilstein-Institut
2020-06-01
|
| Σειρά: | Beilstein Journal of Nanotechnology |
| Θέματα: | |
| Διαθέσιμο Online: | https://doi.org/10.3762/bjnano.11.77 |
| Ετικέτες: |
Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!
|