Analysis of force-deconvolution methods in frequency-modulation atomic force microscopy

In frequency-modulation atomic force microscopy the direct observable is the frequency shift of an oscillating cantilever in a force field. This frequency shift is not a direct measure of the actual force, and thus, to obtain the force, deconvolution methods are necessary. Two prominent methods prop...

وصف كامل

التفاصيل البيبلوغرافية

المؤلفون الرئيسيون:	Joachim Welker, Esther Illek, Franz J. Giessibl
التنسيق:	Artigo
اللغة:	Inglês
منشور في:	Beilstein-Institut 2012-03-01
سلاسل:	Beilstein Journal of Nanotechnology
الموضوعات:	frequency-modulation atomic force microscopy force deconvolution numerical implementation
الوصول للمادة أونلاين:	https://doi.org/10.3762/bjnano.3.27
الوسوم:	إضافة وسم لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!