Estudio mediante difracción de rayos X de las tensiones residuales producidas durante el depósito de películas delgadas de TiN sobre sustratos metálicos

En este trabajo se analizó la influencia que tiene el espesor de la película y el tipo de sustrato en el nivel y tipo de esfuerzos residuales generados en recubrimientos de TiN obtenidos por dos técnicas de deposición física en fase vapor: pulverización catódica con magnetrón e implantación iónica....

முழு விளக்கம்

நூற்பட்டியல் விவரங்கள்

முதன்மை ஆசிரியர்கள்:	Mónica Monsalve, Esperanza López, Juan Meza, Fabio Vargas
வடிவம்:	Artigo
மொழி:	Inglês
வெளியிடப்பட்டது:	Universidad de Antioquia 2010-01-01
தொடர்:	Revista Facultad de Ingeniería Universidad de Antioquia
பொருள்கள்:	tensiones residuales difracción de rayos x nitruro de titanio películas delgadas
ஆன்லைன் அணுகல்:	http://www.redalyc.org/articulo.oa?id=43019327004
குறிச்சொற்கள்:	குறிச்சொல்லை சேர்க்கவும் டாக்‌ஸ் இல்லை, இந்த பதிவுக்கு குறிச்சொல் சேர்க்கும் முதல் நபராக இருங்கள்!