QR குறியீடு

An Improved YOLOv7-Tiny-Based Algorithm for Wafer Surface Defect Detection

Wafer surface defect detection is a critical component in the chip manufacturing process. To address the shortcomings of manual inspection and the limitations of existing machine learning methods, this paper proposes a wafer defect detection algorithm based on an improved YOLOv7-tiny. First, a coord...

முழு விளக்கம்

சேமிக்கப்பட்டது:
முதன்மை ஆசிரியர்கள்: Mengyun Li, Xueying Wang, Hongtao Zhang, Xiaofeng Hu
வடிவம்: Artigo
மொழி:Inglês
வெளியிடப்பட்டது: IEEE 2025-01-01
தொடர்:IEEE Access
பொருள்கள்:
YOLOv7-tiny
silicon wafer
object detection
deep learning
ஆன்லைன் அணுகல்:https://ieeexplore.ieee.org/document/10836686/
குறிச்சொற்கள்: குறிச்சொல்லை சேர்க்கவும்
டாக்‌ஸ் இல்லை, இந்த பதிவுக்கு குறிச்சொல் சேர்க்கும் முதல் நபராக இருங்கள்!

ஒத்த வளங்கள்