Citações do registro

Citação APA (7ª ed.)
Li, M., Wang, X., Zhang, H., & Hu, X. (2025). An Improved YOLOv7-Tiny-Based Algorithm for Wafer Surface Defect Detection. IEEE.
Citação do estilo Chicago (17ª ed.)
Li, Mengyun, Xueying Wang, Hongtao Zhang, e Xiaofeng Hu. An Improved YOLOv7-Tiny-Based Algorithm for Wafer Surface Defect Detection. IEEE, 2025.
Citação MLA (9ª ed.)
Li, Mengyun, et al. An Improved YOLOv7-Tiny-Based Algorithm for Wafer Surface Defect Detection. IEEE, 2025.
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