Mã QR

Electrical Effect of Nitrogen Implanted Into LDD of MOSFETs

The motivation of this study was to solve the high <inline-formula> <tex-math notation="LaTeX">$\rm I_{D,off}$ </tex-math></inline-formula> problem in 8 Volt N-channel MOSFET. We experimented with implanting nitrogen into LDD at various doses. As a result, <inline-formula> <tex-math notation="LaTeX"...

Mô tả đầy đủ

Đã lưu trong:
Chi tiết về thư mục
Những tác giả chính: Yoo Seon Song, Markus Lenski, Mohammed F. Karim, Keith Flynn, Jan Hoentschel, Carsten Peters, Jens-Uwe Sachse, Omur Isil Aydin, Jun Wu, Bastian Hausdorfer, Mahesh Siddabathula, Konrad Semmler, Jurgen Daleiden
Định dạng: Artigo
Ngôn ngữ:Inglês
Được phát hành: IEEE 2024-01-01
Loạt:IEEE Journal of the Electron Devices Society
Những chủ đề:
Truy cập trực tuyến:https://ieeexplore.ieee.org/document/10634165/
Các nhãn: Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!