Characterization of Ti/SnO<sub>2</sub> Interface by X-ray Photoelectron Spectroscopy
The Ti/SnO<sub>2</sub> interface has been investigated in situ via the technique of x-ray photoelectron spectroscopy. Thin films (in the range from 0.3 to 1.1 nm) of titanium were deposited on SnO<sub>2</sub> substrates via the e-beam technique. The deposition was carried out at two different substr...
সংরক্ষণ করুন:
| প্রধান লেখক: | , |
|---|---|
| বিন্যাস: | Artigo |
| ভাষা: | Inglês |
| প্রকাশিত: |
MDPI AG
2022-01-01
|
| মালা: | Nanomaterials |
| বিষয়গুলি: | |
| অনলাইন ব্যবহার করুন: | https://www.mdpi.com/2079-4991/12/2/202 |
| ট্যাগগুলো: |
কোনো ট্যাগ নেই, প্রথমজন হিসাবে ট্যাগ করুন!
|