Characterization of Ti/SnO<sub>2</sub> Interface by X-ray Photoelectron Spectroscopy
The Ti/SnO<sub>2</sub> interface has been investigated in situ via the technique of x-ray photoelectron spectroscopy. Thin films (in the range from 0.3 to 1.1 nm) of titanium were deposited on SnO<sub>2</sub> substrates via the e-beam technique. The deposition was carried out at two different substr...
சேமிக்கப்பட்டது:
| முதன்மை ஆசிரியர்கள்: | , |
|---|---|
| வடிவம்: | Artigo |
| மொழி: | Inglês |
| வெளியிடப்பட்டது: |
MDPI AG
2022-01-01
|
| தொடர்: | Nanomaterials |
| பொருள்கள்: | |
| ஆன்லைன் அணுகல்: | https://www.mdpi.com/2079-4991/12/2/202 |
| குறிச்சொற்கள்: |
டாக்ஸ் இல்லை, இந்த பதிவுக்கு குறிச்சொல் சேர்க்கும் முதல் நபராக இருங்கள்!
|