Alıntılar
APA (7. basım) Alıntı
Martinez, M., & Chourasia, A. R. (2022). Characterization of Ti/SnO<sub>2</sub> Interface by X-ray Photoelectron Spectroscopy. MDPI AG.
Panoya başarıyla kopyalandı
Panoya kopyalama başarısız oldu
Chicago Style (17. basım) Atıf
Martinez, Miranda, ve Anil R. Chourasia. Characterization of Ti/SnO<sub>2</sub> Interface by X-ray Photoelectron Spectroscopy. MDPI AG, 2022.
Panoya başarıyla kopyalandı
Panoya kopyalama başarısız oldu
MLA (9th ed.) Atıf
Martinez, Miranda, ve Anil R. Chourasia. Characterization of Ti/SnO<sub>2</sub> Interface by X-ray Photoelectron Spectroscopy. MDPI AG, 2022.
Panoya başarıyla kopyalandı
Panoya kopyalama başarısız oldu
Uyarı: Bu alıntı herzaman %100 doğru olmayabilir..