An Improved YOLOv8 Detection Algorithm Based on Screen Printing Defect Images

Micro-defects, such as ink spots, scratches, and sintering formed during the screen printing process of photovoltaic cells, significantly impair module performance. Traditional machine vision methods exhibit limited detection efficiency and high false-positive and missed-detection rates, while exist...

Ամբողջական նկարագրություն

Մատենագիտական մանրամասներ

Հիմնական հեղինակներ:	Shuqin Wu, Xinru Dong, Qiang Da, Meiou Wang, Yuxuan Sun, Ge Ge, Jinge Ma, Jiajie Kang, Yu Yao, Shubo Shi
Ձևաչափ:	Artigo
Լեզու:	Inglês
Հրապարակվել է:	MDPI AG 2026-03-01
Շարք:	Sensors
Խորագրեր:	YOLOv8 screen printing defect detection deep learning machine vision
Առցանց հասանելիություն:	https://www.mdpi.com/1424-8220/26/5/1604
Ցուցիչներ:	Ավելացրեք ցուցիչ Չկան պիտակներ, Եղեք առաջինը, ով նշում է այս գրառումը!