Factores de sensibilidad XPS para la cuantificación de catalizadores de Bi2MoxW1-xO6
La espectroscopia de fotoelectrones de rayos se utiliza ampliamente para determinar la composición química y los estados de oxidación de materiales sólidos. Para la cuantificación con XPS es necesario tener factores de sensibilidad relativos confiables. Se presentan espectros XPS generales y de alta...
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| প্রকাশিত: | Superficies y vacío |
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| প্রধান লেখক: | , , , , |
| বিন্যাস: | Artigo |
| ভাষা: | Espanhol |
| প্রকাশিত: |
Sociedad Mexicana de Ciencia y Tecnología de Superficies y Materiales A.C.
2005
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| বিষয়গুলি: | |
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