Factores de sensibilidad XPS para la cuantificación de catalizadores de Bi2MoxW1-xO6
La espectroscopia de fotoelectrones de rayos se utiliza ampliamente para determinar la composición química y los estados de oxidación de materiales sólidos. Para la cuantificación con XPS es necesario tener factores de sensibilidad relativos confiables. Se presentan espectros XPS generales y de alta...
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| Опубликовано в:: | Superficies y vacío |
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| Главные авторы: | , , , , |
| Формат: | Artigo |
| Язык: | Espanhol |
| Опубликовано: |
Sociedad Mexicana de Ciencia y Tecnología de Superficies y Materiales A.C.
2005
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| Online-ссылка: | https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=94218403 |
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