Factores de sensibilidad XPS para la cuantificación de catalizadores de Bi2MoxW1-xO6
La espectroscopia de fotoelectrones de rayos se utiliza ampliamente para determinar la composición química y los estados de oxidación de materiales sólidos. Para la cuantificación con XPS es necesario tener factores de sensibilidad relativos confiables. Se presentan espectros XPS generales y de alta...
Збережено в:
| Опубліковано в:: | Superficies y vacío |
|---|---|
| Автори: | , , , , |
| Формат: | Artigo |
| Мова: | Espanhol |
| Опубліковано: |
Sociedad Mexicana de Ciencia y Tecnología de Superficies y Materiales A.C.
2005
|
| Предмети: | |
| Онлайн доступ: | https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=94218403 |
| Теги: |
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|