Factores de sensibilidad XPS para la cuantificación de catalizadores de Bi2MoxW1-xO6
La espectroscopia de fotoelectrones de rayos se utiliza ampliamente para determinar la composición química y los estados de oxidación de materiales sólidos. Para la cuantificación con XPS es necesario tener factores de sensibilidad relativos confiables. Se presentan espectros XPS generales y de alta...
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| Publicado no: | Superficies y vacío |
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| Principais autores: | , , , , |
| Formato: | Artigo |
| Idioma: | Espanhol |
| Publicado em: |
Sociedad Mexicana de Ciencia y Tecnología de Superficies y Materiales A.C.
2005
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| Assuntos: | |
| Acesso em linha: | https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=94218403 |
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