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Optical and structural characterization ot the heterostructure CdTe/GaAs grown by RF sputtering

We present the results of the characterization of CdTe thin films grown by radio frequency sputtering employing GaAs substrates subject to different chemical cleaning procedures. The objective of this work is to study the effect of GaAs fresh oxides on the properties of CdTe films. The three differe...

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Detalles Bibliográficos
Publicado en:Superficies y vacío
Principais autores: M. Meléndez-Lira, S. López-López, Z. Rivera-Alvarez, S. Jiménez-Sandoval
Formato: Artigo
Idioma:Inglês
Publicado: Sociedad Mexicana de Ciencia y Tecnología de Superficies y Materiales A.C. 1999
Assuntos:
Acceso en liña:https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=94211324019
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