Resolución atómica de elementos ligeros utilizando HAADF y ABF-STEM con corrección de Cs y bajo voltaje

Scanning transmission electron microscopy (STEM) can give structural and chemical information down to 0.1 nm of spatial resolution, which sub–angstrom resolution is achieved with a spherical aberration corrector for the probe. In the STEM, the electron probe is focused and scanned over the sample an...

Ausführliche Beschreibung

Bibliografische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Mundo Nano
1. Verfasser:	Rodrigo Esparza
Format:	Artigo
Sprache:	Espanhol
Veröffentlicht:	Universidad Nacional Autónoma de México 2020
Schlagworte:	Multidisciplinaria (Ciencias Naturales y Exactas)
Online-Zugang:	https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=757781195004
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