Common-source cold-FET used to validate noise figure measurements and on-wafer FET noise parameters

This work proposes the use of a common-source cold-FET with gate forward biased to validate the noise figure measurements and the noise parameters of on-wafer transistors. Since a common-source cold-FET behaves as an attenuator, its noise figure and noise parameters can be determined from S-paramete...

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Detalhes bibliográficos
Publicado no:Revista Mexicana de Física
Main Authors: B. E. Figueroa Reséndiz, M. C. Maya Sánchez, J. A. Reynoso Hernández
Formato: Artigo
Idioma:Inglês
Publicado em: Sociedad Mexicana de Física A.C. 2013
Assuntos:
Física, Astronomía y Matemáticas
FET
cold
source
F50 method
Noise figure
Acesso em linha:https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=57028306010
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