Common-source cold-FET used to validate noise figure measurements and on-wafer FET noise parameters

This work proposes the use of a common-source cold-FET with gate forward biased to validate the noise figure measurements and the noise parameters of on-wafer transistors. Since a common-source cold-FET behaves as an attenuator, its noise figure and noise parameters can be determined from S-paramete...

Celý popis

Podrobná bibliografie

Vydáno v:	Revista Mexicana de Física
Hlavní autoři:	B. E. Figueroa Reséndiz, M. C. Maya Sánchez, J. A. Reynoso Hernández
Médium:	Artigo
Jazyk:	Inglês
Vydáno:	Sociedad Mexicana de Física A.C. 2013
Témata:	Física, Astronomía y Matemáticas
On-line přístup:	https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=57028306010
Tagy:	Přidat tag Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!