Estudio mediante difracción de rayos X de las tensiones residuales producidas durante el depósito de películas delgadas de TiN sobre sustratos metálicos
En este trabajo se analizó la influencia que tiene el espesor de la película y el tipo de sustrato en el nivel y tipo de esfuerzos residuales generados en recubrimientos de TiN obtenidos por dos técnicas de deposición física en fase vapor: pulverización catódica con magnetrón e implantación iónica....
שמור ב:
| הוצא לאור ב: | Revista Facultad de Ingeniería Universidad de Antioquia |
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| Principais autores: | , , , |
| פורמט: | Artigo |
| יצא לאור: |
Universidad de Antioquia
2010
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| נושאים: | |
| גישה מקוונת: | https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=43019327004 |
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