Caracterización de muestras policristalinas para fines arqueológicos por cinemática de difracción de rayos X y refinamiento Rietveld

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Bibliografske podrobnosti

Principais autores:	Frank Moya, Luis Lizarraga, Elvira Zeballos-Velásquez, Gabriel Prieto, Esteban Asto, Miguel Andía
Format:	Artigo
Jezik:	Inglês
Izdano:	Instituto de Investigación de Física 2024-04-01
Serija:	Revista de Investigación de Física
Teme:	Arcilla pigmento difracción de rayos X método de Rietveld
Online dostop:	https://revistasinvestigacion.unmsm.edu.pe/index.php/fisica/article/view/28010
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