Caracterización de muestras policristalinas para fines arqueológicos por cinemática de difracción de rayos X y refinamiento Rietveld

Muestras geológicas de arcilla del valle de Moche fueron investigadas con el objetivo de continuar elaborando una base de datos de arcillas que se pueda contrastar con la composición mineralógica de muestras arqueológicas. Un estudio de pigmentos blancos de mural, con fines de preservación y puesta...

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Podrobná bibliografie

Hlavní autoři:	Frank Moya, Luis Lizarraga, Elvira Zeballos-Velásquez, Gabriel Prieto, Esteban Asto, Miguel Andía
Médium:	Artigo
Jazyk:	Inglês
Vydáno:	Instituto de Investigación de Física 2024-04-01
Edice:	Revista de Investigación de Física
Témata:	Arcilla pigmento difracción de rayos X método de Rietveld
On-line přístup:	https://revistasinvestigacion.unmsm.edu.pe/index.php/fisica/article/view/28010
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