Inspección visual de defectos en placas de circuito impreso utilizando arquitecturas YOLO: Una comparación sobre el conjunto de datos DeepPCB
La detección de defectos en placas de circuito impreso (PCB, por sus siglas en inglés) continúa siendo un desafío para los sistemas modernos de manufactura electrónica, donde la necesidad de reducir costos y mejorar la confiabilidad de los productos ha impulsado el desarrollo y aplicación de nuevos...
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| Εκδόθηκε σε: | TecnoLógicas |
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| Κύριοι συγγραφείς: | , , |
| Μορφή: | Artigo |
| Γλώσσα: | Espanhol |
| Έκδοση: |
Instituto Tecnológico Metropolitano
2026
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