Inspección visual de defectos en placas de circuito impreso utilizando arquitecturas YOLO: Una comparación sobre el conjunto de datos DeepPCB

La detección de defectos en placas de circuito impreso (PCB, por sus siglas en inglés) continúa siendo un desafío para los sistemas modernos de manufactura electrónica, donde la necesidad de reducir costos y mejorar la confiabilidad de los productos ha impulsado el desarrollo y aplicación de nuevos...

Szczegółowa specyfikacja

Opis bibliograficzny

Wydane w:	TecnoLógicas
Główni autorzy:	Alexia Blanco, Ivon Oristela Benítez-González, José Manuel Bernal-de Lázaro
Format:	Artigo
Język:	Espanhol
Wydane:	Instituto Tecnológico Metropolitano 2026
Hasła przedmiotowe:	Ingeniería YOLO visión artificial repositorio DeepPCB Detección de defectos placas de circuito impreso
Dostęp online:	https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=344284989010 https://www.redalyc.org/journal/3442/344284989010/ https://www.redalyc.org/journal/3442/344284989010/html/ https://www.redalyc.org/journal/3442/344284989010/344284989010.epub https://www.redalyc.org/journal/3442/344284989010/movil
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