Inspección visual de defectos en placas de circuito impreso utilizando arquitecturas YOLO: Una comparación sobre el conjunto de datos DeepPCB

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מידע ביבליוגרפי

הוצא לאור ב:	TecnoLógicas
Principais autores:	Alexia Blanco, Ivon Oristela Benítez-González, José Manuel Bernal-de Lázaro
פורמט:	Artigo
שפה:	Espanhol
יצא לאור:	Instituto Tecnológico Metropolitano 2026
נושאים:	Ingeniería YOLO visión artificial repositorio DeepPCB Detección de defectos placas de circuito impreso
גישה מקוונת:	https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=344284989010 https://www.redalyc.org/journal/3442/344284989010/ https://www.redalyc.org/journal/3442/344284989010/html/ https://www.redalyc.org/journal/3442/344284989010/344284989010.epub https://www.redalyc.org/journal/3442/344284989010/movil
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