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Inspección visual de defectos en placas de circuito impreso utilizando arquitecturas YOLO: Una comparación sobre el conjunto de datos DeepPCB

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Bibliografiske detaljer
Udgivet i:TecnoLógicas
Principais autores: Alexia Blanco, Ivon Oristela Benítez-González, José Manuel Bernal-de Lázaro
Format: Artigo
Sprog:Espanhol
Udgivet: Instituto Tecnológico Metropolitano 2026
Fag:
Online adgang:https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=344284989010
https://www.redalyc.org/journal/3442/344284989010/
https://www.redalyc.org/journal/3442/344284989010/html/
https://www.redalyc.org/journal/3442/344284989010/344284989010.epub
https://www.redalyc.org/journal/3442/344284989010/movil
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