লোডিং...
An atomic force microscope integrated with a helium ion microscope for correlative nanoscale characterization
In this work, we report on the integration of an atomic force microscope (AFM) into a helium ion microscope (HIM). The HIM is a powerful instrument, capable of imaging and machining of nanoscale structures with sub-nanometer resolution, while the AFM is a well-established versatile tool for multipar...
সংরক্ষণ করুন:
| প্রকাশিত: | Beilstein J Nanotechnol |
|---|---|
| প্রধান লেখক: | , , , , , |
| বিন্যাস: | Artigo |
| ভাষা: | Inglês |
| প্রকাশিত: |
Beilstein-Institut
2020
|
| বিষয়গুলি: | |
| অনলাইন ব্যবহার করুন: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC7476598/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/32953371 https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.3762/bjnano.11.111 |
| ট্যাগগুলো: |
ট্যাগ যুক্ত করুন
কোনো ট্যাগ নেই, প্রথমজন হিসাবে ট্যাগ করুন!
|