Φορτώνει......

Addressing systematic errors in axial distance measurements in single-emitter localization microscopy

Nanoscale localization of point emitters is critical to several methods in optical fluorescence microscopy, including single-molecule super-resolution imaging and tracking. While the precision of the localization procedure has been the topic of extensive study, localization accuracy has been less em...

Πλήρης περιγραφή

Αποθηκεύτηκε σε:
Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Τόπος έκδοσης:Opt Express
Κύριοι συγγραφείς: Petrov, Petar N., Moerner, W. E.
Μορφή: Artigo
Γλώσσα:Inglês
Έκδοση: Optical Society of America 2020
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC7340385/
https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/32672159
https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1364/OE.391496
Ετικέτες: Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!