تحميل...

Measurement of electrostatic tip–sample interactions by time-domain Kelvin probe force microscopy

Kelvin probe force microscopy is a scanning probe technique used to quantify the local electrostatic potential of a surface. In common implementations, the bias voltage between the tip and the sample is modulated. The resulting electrostatic force or force gradient is detected via lock-in techniques...

وصف كامل

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
الحاوية / القاعدة:Beilstein J Nanotechnol
المؤلفون الرئيسيون: Ritz, Christian, Wagner, Tino, Stemmer, Andreas
التنسيق: Artigo
اللغة:Inglês
منشور في: Beilstein-Institut 2020
الموضوعات:
الوصول للمادة أونلاين:https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC7308609/
https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/32596095
https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.3762/bjnano.11.76
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!