تحميل...
Measurement of electrostatic tip–sample interactions by time-domain Kelvin probe force microscopy
Kelvin probe force microscopy is a scanning probe technique used to quantify the local electrostatic potential of a surface. In common implementations, the bias voltage between the tip and the sample is modulated. The resulting electrostatic force or force gradient is detected via lock-in techniques...
محفوظ في:
| الحاوية / القاعدة: | Beilstein J Nanotechnol |
|---|---|
| المؤلفون الرئيسيون: | , , |
| التنسيق: | Artigo |
| اللغة: | Inglês |
| منشور في: |
Beilstein-Institut
2020
|
| الموضوعات: | |
| الوصول للمادة أونلاين: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC7308609/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/32596095 https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.3762/bjnano.11.76 |
| الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|