Đang tải...
Kelvin probe force microscopy for local characterisation of active nanoelectronic devices
Frequency modulated Kelvin probe force microscopy (FM-KFM) is the method of choice for high resolution measurements of local surface potentials, yet on coarse topographic structures most researchers revert to amplitude modulated lift-mode techniques for better stability. This approach inevitably tra...
Đã lưu trong:
| Xuất bản năm: | Beilstein J Nanotechnol |
|---|---|
| Những tác giả chính: | , , , , , , |
| Định dạng: | Artigo |
| Ngôn ngữ: | Inglês |
| Được phát hành: |
Beilstein-Institut
2015
|
| Những chủ đề: | |
| Truy cập trực tuyến: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC4685916/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/26734511 https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.3762/bjnano.6.225 |
| Các nhãn: |
Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
|