Đang tải...
Combined scanning probe electronic and thermal characterization of an indium arsenide nanowire
As electronic devices are downsized, physical processes at the interface to electrodes may dominate and limit device performance. A crucial step towards device optimization is being able to separate such contact effects from intrinsic device properties. Likewise, an increased local temperature due t...
Đã lưu trong:
| Xuất bản năm: | Beilstein J Nanotechnol |
|---|---|
| Những tác giả chính: | , , , , |
| Định dạng: | Artigo |
| Ngôn ngữ: | Inglês |
| Được phát hành: |
Beilstein-Institut
2018
|
| Những chủ đề: | |
| Truy cập trực tuyến: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC5789438/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/29441258 https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.3762/bjnano.9.15 |
| Các nhãn: |
Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
|