3C-SiC Growth on Inverted Silicon Pyramids Patterned Substrate

This work reports on the properties of cubic silicon carbide (3C-SiC) grown epitaxially on a patterned silicon substrate composed of squared inverted silicon pyramids (ISP). This compliant substrate prevents stacking faults, usually found at the SiC/Si interface, from reaching the surface. We invest...

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Detalhes bibliográficos
Publicado no:Materials (Basel)
Main Authors: Zimbone, Massimo, Zielinski, Marcin, Bongiorno, Corrado, Calabretta, Cristiano, Anzalone, Ruggero, Scalese, Silvia, Fisicaro, Giuseppe, La Magna, Antonino, Mancarella, Fulvio, La Via, Francesco
Formato: Artigo
Idioma:Inglês
Publicado em: MDPI 2019
Assuntos:
Article
Acesso em linha:https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC6829442/
https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/31635213
https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.3390/ma12203407
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