טוען...
Short range biaxial strain relief mechanism within epitaxially grown BiFeO(3)
Lattice mismatch-induced biaxial strain effect on the crystal structure and growth mechanism is investigated for the BiFeO(3) films grown on La(0.6)Sr(0.4)MnO(3)/SrTiO(3) and YAlO(3) substrates. Nano-beam electron diffraction, structure factor calculation and x-ray reciprocal space mapping unambiguo...
שמור ב:
| הוצא לאור ב: | Sci Rep |
|---|---|
| Main Authors: | , , , , , , |
| פורמט: | Artigo |
| שפה: | Inglês |
| יצא לאור: |
Nature Publishing Group UK
2019
|
| נושאים: | |
| גישה מקוונת: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC6491549/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/31040305 https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1038/s41598-019-42998-x |
| תגים: |
הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!
|