Ładuje się......

Photo-Induced Force Microscopy by Using Quartz Tuning-Fork Sensor

We present the photo-induced force microscopy (PiFM) studies of various nano-materials by implementing a quartz tuning fork (QTF), a self-sensing sensor that does not require complex optics to detect the motion of a force probe and thus helps to compactly configure the nanoscale optical mapping tool...

Szczegółowa specyfikacja

Zapisane w:
Opis bibliograficzny
Wydane w:Sensors (Basel)
Główni autorzy: Jahng, Junghoon, Kwon, Hyuksang, Lee, Eun Seong
Format: Artigo
Język:Inglês
Wydane: MDPI 2019
Hasła przedmiotowe:
Dostęp online:https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC6480011/
https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/30934843
https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.3390/s19071530
Etykiety: Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!