Загрузка...

Photo-Induced Force Microscopy by Using Quartz Tuning-Fork Sensor

We present the photo-induced force microscopy (PiFM) studies of various nano-materials by implementing a quartz tuning fork (QTF), a self-sensing sensor that does not require complex optics to detect the motion of a force probe and thus helps to compactly configure the nanoscale optical mapping tool...

Полное описание

Сохранить в:
Библиографические подробности
Опубликовано в: :Sensors (Basel)
Главные авторы: Jahng, Junghoon, Kwon, Hyuksang, Lee, Eun Seong
Формат: Artigo
Язык:Inglês
Опубликовано: MDPI 2019
Предметы:
Online-ссылка:https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC6480011/
https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/30934843
https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.3390/s19071530
Метки: Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!