Načítá se...

Challenges to miniaturizing cold atom technology for deployable vacuum metrology

Cold atoms are excellent metrological tools; they currently realize SI time and, soon, SI pressure in the ultra-high (UHV) and extreme high vacuum (XHV) regimes. The development of primary, vacuum metrology based on cold atoms currently falls under the purview of national metrology institutes. Under...

Celý popis

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Vydáno v:Metrologia
Hlavní autoři: Eckel, Stephen, Barker, Daniel S., Fedchak, James A., Klimov, Nikolai N., Norrgard, Eric, Scherschligt, Julia, Makrides, Constantinos, Tiesinga, Eite
Médium: Artigo
Jazyk:Inglês
Vydáno: 2018
Témata:
On-line přístup:https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC6459404/
https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/30983635
https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1088/1681-7575/aadbe4
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo otaguje tento záznam!