Indexing grazing-incidence X-ray diffraction patterns of thin films: lattices of higher symmetry

Grazing-incidence X-ray diffraction studies on organic thin films are often performed on systems showing fibre-textured growth. However, indexing their experimental diffraction patterns is generally challenging, especially if low-symmetry lattices are involved. Recently, analytical mathematical expr...

Mô tả đầy đủ

Đã lưu trong:
Chi tiết về thư mục
Xuất bản năm:J Appl Crystallogr
Những tác giả chính: Simbrunner, Josef, Hofer, Sebastian, Schrode, Benedikt, Garmshausen, Yves, Hecht, Stefan, Resel, Roland, Salzmann, Ingo
Định dạng: Artigo
Ngôn ngữ:Inglês
Được phát hành: International Union of Crystallography 2019
Những chủ đề:
Research Papers
Truy cập trực tuyến:https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC6448685/
https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/30996719
https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1107/S1600576719003029
Các nhãn: Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!

Những quyển sách tương tự