Φορτώνει......

Atomic number dependence of Z contrast in scanning transmission electron microscopy

Annular dark-field (ADF) imaging by scanning transmission electron microscopy (STEM) is a common technique for material characterization with high spatial resolution. It has been reported that ADF signal is proportional to the nth power of the atomic number Z, i.e., the Z contrast in textbooks and p...

Πλήρης περιγραφή

Αποθηκεύτηκε σε:
Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Τόπος έκδοσης:Sci Rep
Κύριοι συγγραφείς: Yamashita, Shunsuke, Kikkawa, Jun, Yanagisawa, Keiichi, Nagai, Takuro, Ishizuka, Kazuo, Kimoto, Koji
Μορφή: Artigo
Γλώσσα:Inglês
Έκδοση: Nature Publishing Group UK 2018
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC6098135/
https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/30120323
https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1038/s41598-018-30941-5
Ετικέτες: Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!