Đang tải...
Reflective Small Angle Electron Scattering to Characterize Nanostructures on Opaque Substrates
Features sizes in integrated circuits (ICs) are often at the scale of 10 nm and are ever shrinking. ICs appearing in today’s computers and hand held devices are perhaps the most prominent examples. These smaller feature sizes demand equivalent advances in fast and accurate dimensional metrology for...
Đã lưu trong:
| Xuất bản năm: | Appl Phys Lett |
|---|---|
| Những tác giả chính: | , , , |
| Định dạng: | Artigo |
| Ngôn ngữ: | Inglês |
| Được phát hành: |
2017
|
| Những chủ đề: | |
| Truy cập trực tuyến: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC5726286/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/29242646 https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1063/1.4991696 |
| Các nhãn: |
Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
|