Ładuje się......
Quantitative Scanning Probe Microscopy for Nanomechanical Forensics
Atomic force microscopy (AFM) was used to assess the indentation modulus M(s) and pull-off force F(po) in four case studies of distinct evidence types, namely hair, questioned documents, fingerprints, and explosive particle-surface interactions. In the hair study, M(s) decreased and F(po) increased...
Zapisane w:
| Wydane w: | Exp Mech |
|---|---|
| Główni autorzy: | , |
| Format: | Artigo |
| Język: | Inglês |
| Wydane: |
2016
|
| Hasła przedmiotowe: | |
| Dostęp online: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC5647587/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/29056752 https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1007/s11340-016-0238-y |
| Etykiety: |
Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!
|