Načítá se...

Synthetic Data in Quantitative Scanning Probe Microscopy

Synthetic data are of increasing importance in nanometrology. They can be used for development of data processing methods, analysis of uncertainties and estimation of various measurement artefacts. In this paper we review methods used for their generation and the applications of synthetic data in sc...

Celý popis

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Vydáno v:Nanomaterials (Basel)
Hlavní autoři: Nečas, David, Klapetek, Petr
Médium: Artigo
Jazyk:Inglês
Vydáno: MDPI 2021
Témata:
On-line přístup:https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC8308173/
https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/34361132
https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.3390/nano11071746
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo otaguje tento záznam!