تحميل...
Soft x-ray reflectometry, hard x-ray photoelectron spectroscopy and transmission electron microscopy investigations of the internal structure of TiO(2)(Ti)/SiO(2)/Si stacks
We developed a mathematical analysis method of reflectometry data and used it to characterize the internal structure of TiO(2)/SiO(2)/Si and Ti/SiO(2)/Si stacks. Atomic concentration profiles of all the chemical elements composing the samples were reconstructed from the analysis of the reflectivity...
محفوظ في:
| الحاوية / القاعدة: | Sci Technol Adv Mater |
|---|---|
| المؤلفون الرئيسيون: | , , , , , , |
| التنسيق: | Artigo |
| اللغة: | Inglês |
| منشور في: |
Taylor & Francis
2012
|
| الموضوعات: | |
| الوصول للمادة أونلاين: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC5090293/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/27877468 https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1088/1468-6996/13/1/015001 |
| الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|