טוען...

High-density mapping of quantitative trait loci for grain-weight and spikelet number in rice

BACKGROUND: High grain yield is one of the most important traits requiring improvement in rice breeding programs. Consequently, the genetic basis of spikelets per panicle (SPP) and grain weight (TGW) have received much research focus because of their importance in rice yield. RESULTS: In this study,...

תיאור מלא

שמור ב:
מידע ביבליוגרפי
הוצא לאור ב:Rice (N Y)
Main Authors: Kim, Dong-Min, Lee, Hyun-Sook, Kwon, Soo-Jin, Fabreag, Mark Edward, Kang, Ju-Won, Yun, Yeo-Tae, Chung, Chong-Tae, Ahn, Sang-Nag
פורמט: Artigo
שפה:Inglês
יצא לאור: Springer New York 2014
נושאים:
גישה מקוונת:https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC4884038/
https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/26055996
https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1186/s12284-014-0014-5
תגים: הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!