טוען...
De novo phasing with optimized XFEL data
Nass et al. [IUCrJ (2016), 3, 180–191] have demonstrated that serial femtosecond crystallography (SFX) data collected at X-ray free-electron lasers (XFELs) can be successfully phased using only the weak anomalous scattering from the native S atoms.
שמור ב:
| הוצא לאור ב: | IUCrJ |
|---|---|
| מחבר ראשי: | |
| פורמט: | Artigo |
| שפה: | Inglês |
| יצא לאור: |
International Union of Crystallography
2016
|
| נושאים: | |
| גישה מקוונת: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC4856137/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/27158501 https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1107/S2052252516006758 |
| תגים: |
הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!
|