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De novo phasing with optimized XFEL data

Nass et al. [IUCrJ (2016), 3, 180–191] have demonstrated that serial femtosecond crystallography (SFX) data collected at X-ray free-electron lasers (XFELs) can be successfully phased using only the weak anomalous scattering from the native S atoms.

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Detalhes bibliográficos
Publicado no:IUCrJ
Autor principal: Hao, Quan
Formato: Artigo
Idioma:Inglês
Publicado em: International Union of Crystallography 2016
Assuntos:
Acesso em linha:https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC4856137/
https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/27158501
https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1107/S2052252516006758
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