লোডিং...
Resonant inelastic X-ray scattering spectrometer with 25 meV resolution at the Cu K-edge
An unparalleled resolution is reported with an inelastic X-ray scattering instrument at the Cu K-edge. Based on a segmented concave analyzer, featuring single-crystal quartz (SiO(2)) pixels, the spectrometer delivers a resolution near 25 meV (FWHM) at 8981 eV. Besides the quartz analyzer, the perfor...
সংরক্ষণ করুন:
| প্রকাশিত: | J Synchrotron Radiat |
|---|---|
| প্রধান লেখক: | , , , , , , , , |
| বিন্যাস: | Artigo |
| ভাষা: | Inglês |
| প্রকাশিত: |
International Union of Crystallography
2015
|
| বিষয়গুলি: | |
| অনলাইন ব্যবহার করুন: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC4787028/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/26134800 https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1107/S1600577515009686 |
| ট্যাগগুলো: |
ট্যাগ যুক্ত করুন
কোনো ট্যাগ নেই, প্রথমজন হিসাবে ট্যাগ করুন!
|