Ładuje się......

Direct Observation of the Biaxial Stress Effect on Efficiency Droop in GaN-based Light-emitting Diode under Electrical Injection

Light-emitting diode (LED) efficiency has attracted considerable interest because of the extended use of solid-state lighting. Owing to lack of direct measurement, identification of the reasons for efficiency droop has been restricted. A direct measurement technique is developed in this work for cha...

Szczegółowa specyfikacja

Zapisane w:
Opis bibliograficzny
Wydane w:Sci Rep
Główni autorzy: Zheng, Jinjian, Li, Shuiqing, Chou, Chilun, Lin, Wei, Xun, Feilin, Guo, Fei, Zheng, Tongchang, Li, Shuping, Kang, Junyong
Format: Artigo
Język:Inglês
Wydane: Nature Publishing Group 2015
Hasła przedmiotowe:
Dostęp online:https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC4669452/
https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/26634816
https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1038/srep17227
Etykiety: Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!