טוען...

Dissipation signals due to lateral tip oscillations in FM-AFM

We study the coupling of lateral and normal tip oscillations and its effect on the imaging process of frequency-modulated dynamic atomic force microscopy. The coupling is induced by the interaction between tip and surface. Energy is transferred from the normal to the lateral excitation, which can be...

תיאור מלא

שמור ב:
מידע ביבליוגרפי
הוצא לאור ב:Beilstein J Nanotechnol
Main Authors: Klocke, Michael, Wolf, Dietrich E
פורמט: Artigo
שפה:Inglês
יצא לאור: Beilstein-Institut 2014
נושאים:
גישה מקוונת:https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC4273252/
https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/25551032
https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.3762/bjnano.5.213
תגים: הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!